1.

国際会議録

国際会議録
Kujawinska, M. ; Sitnik, R. ; Pawlowski, M. ; Garbat, P. ; Wegiel, M.
出版情報: Interferometry XI: Applications.  pp.35-47,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4778
2.

国際会議録

国際会議録
Kujawinska, M. ; Pawlowski, M.
出版情報: International Conference on Applied Optical Metrology.  pp.522-527,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE--International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3407