1.

国際会議録
国際会議録
1. Full color laser projection display using Kr-Ar laser(white laser)beam-scanning technology
Kim,Y.H. ; Lee,H.W. ; Cha,S.N. ; Lee,J.H. ; Park,Y.J. ; Park,J.H. ; Hong,S.S. ; Hwang,Y.M.
出版情報: Optical scanning systems: design and applications : 30-31 July, 1997, San Diego, California.  pp.2-10,  1997.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3131
2.

国際会議録
国際会議録
2. Parameters affecting megasonic power transmittance in the megasonic cleaning process
Kim,Y.H. ; Park,J.H. ; Lee,K.H. ; Choi,S.W. ; Yoon,H.S. ; Sohn,J.M.
出版情報: Photomask and X-Ray Mask Technology V.  pp.455-462,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3412
3.

国際会議録
国際会議録
3. FIB repair of opaque defects for 64-Mb-DRAM-level binary masks
Lee,K.H. ; Cho,H.K. ; Park,J.H. ; Kim,Y.H. ; Yoon,H.S. ; Sohn,J.M.
出版情報: 16th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology and Management.  pp.442-453,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2884
4.

国際会議録
国際会議録
4. Detectability and printability of programmed defects in the contact layer for 256-Mb-DRAM grade reticle
Kim,Y.H. ; Park,J.H. ; Lee,K.H. ; Cho,H.K. ; Yoon,H.S.
出版情報: 16th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology and Management.  pp.548-561,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2884