1.

国際会議録
国際会議録
1. Photon Emission Analysis of Defect-Free 4H-SiC pn Diodes in Avalanche Regime
Banc, C. ; Bano, E. ; Ouisse, T. ; Vassilevski, K. ; Zekentes, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1293-1296,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
2.

国際会議録
国際会議録
2. Hot-Carrier Luminescence in 4H-SiC MESFETs
Banc, C. ; Bano, E. ; Ouisse, T. ; Noblanc, O. ; Brylinski, C.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1371-1374,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
3.

国際会議録
国際会議録
3. Noise Behavior of 4H-SiC MESFETs at Low Drain Voltage
Banc, C. ; Royet, A.S. ; Ouisse, T. ; Bano, E. ; Noblanc, O. ; Brylinski, C.
出版情報: Silicon carbide and related materials : ECSCRM2000, proceedings of the 3rd European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Kloster Banz, Germany, September 2000.  pp.703-706,  2001.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 353-356
4.

国際会議録
国際会議録
4. Properties of Transmission Lines on Various SiC Substrates
Royet, A. S. ; Cabon, B. ; Ouisse, T. ; Billon, T.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 1999 : ICSCRM'99, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 1999, Research Triangle Park, North Carolina, USA, October 10-15, 1999.  pp.1267-1270,  2000.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 338-342(2)
5.

国際会議録
国際会議録
5. Photon Emission Mechanisms in 6H and 4H-SiC MOSFETs
Banc, C. ; Bano, E. ; Ouisse, T. ; Scharnholz, S. ; Schmid, U. ; Wondrak, W. ; Niemann, E.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 1999 : ICSCRM'99, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 1999, Research Triangle Park, North Carolina, USA, October 10-15, 1999.  pp.695-698,  2000.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 338-342(1)
6.

国際会議録
国際会議録
6. Electrical and Physical Behavior of SiC Layers on Insulator (SiCOI)
Hugonnard-Bruyere, E. ; Letertre, F. ; Cioccio, L. Di ; Bardeleben, H. J. von ; Cantin, J. L. ; Ouisse, T. ; Billon, T. ; Guillot, G.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 1999 : ICSCRM'99, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 1999, Research Triangle Park, North Carolina, USA, October 10-15, 1999.  pp.715-718,  2000.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 338-342(1)
7.

国際会議録
国際会議録
7. Silicon nanostructures in Si/SiO2 superlattices for light emission applications: possibilities and limits
Nassiopoulou, A. G. ; Ouisse, T. ; Photopoulos, P.
出版情報: Frontiers of Nano-Optoelectronic Systems.  pp.137-146,  2000.  Dordrecht, MA.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 2, Mathematics, physics and chemistry
シリーズ巻号: 6
8.

国際会議録
国際会議録
8. Hot-Carrier Luminescence in 4H-SiC MESFETs
Banc, C. ; Bano, E. ; Ouisse, T. ; Noblanc, O. ; Brylinski, C.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1371-1374,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
9.

国際会議録
国際会議録
9. Photon Emission Analysis of Defect-Free 4H-SiC pn Diodes in Avalanche Regime
Banc, C. ; Bano, E. ; Ouisse, T. ; Vassilevski, K. ; Zekentes, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1293-1296,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393