1.

国際会議録
国際会議録
1. Analysis of SiGe FET Device Structures on Silicon-on-Sapphire Substrates by X-ray Diffraction
Mooney, P. M. ; Chu, J. O. ; Ott, J. A. ; Jordan-Sweet, J. L. ; Dubbelday, W. B. ; Kavanagh, K. L. ; Lagnado, I. ; Meyerson, B. S.
出版情報: Epitaxy and applications of si-based heterostructures : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.55-,  1998.  Warrendale, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 533
2.

国際会議録
国際会議録
2. (6.1) 10:35 - 11:05 AM - SiGe MODFETs: Overview and Issues for Sub-100 nm Gate-Length Scaling (Invited)
Koester, S. J. ; Chu, J. O. ; Saenger, K. L. ; Ouyang, Q. C. ; Ott, J. A. ; Canaperi, D. F. ; Tornello, J. A. ; Jahnes, C. V. (IBM)
出版情報: SiGe: materials, processing, and devices : proceedings of the First international symposium.  pp.449-458,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-07