1.

国際会議録
国際会議録
1. Transition-metal acceptor pairs in silicon
Emanuelsson,P. ; Omling,P. ; Grimmeiss,H.G. ; Cehlhoff,W. ; Kreissl,J. ; Irmscher,K. ; Rehse,U.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.1  pp.137-142,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87
2.

国際会議録
国際会議録
2. Excitation Spectrum of the Interstitial Iron Donor in Silicon
Olajos,J. ; Nielsen,B.Bech ; Kleverman,M. ; Omling,P. ; Emanuelsson,O. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.397-402,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41
3.

国際会議録
国際会議録
3. Electron Paramagnetic Resonance Studies of Defects in Indium-Doped Silicon
Omling,P. ; Emanuelsson,P. ; Grimmeiss,H.G.
出版情報: Proceedings of the 15th International Conference on Defects in Semiconductors : Budapest, Hungary, August 22-26, 1988.  Part1  pp.445-450,  1989.  Aederlmannsdorf, Switzwelns.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 38-41