1.

国際会議録

国際会議録
Okada,S. ; Imade,M. ; Miyauchi,H. ; Miyoshi,T. ; Sumimoto,T. ; Yamamoto,H.
出版情報: Three-Dimensional Imaging and Laser-Based Systems for Metrology and Inspection II.  pp.58-65,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2909
2.

国際会議録

国際会議録
Takeda,F. ; Okada,S. ; Imade,M. ; Miyauchi,H.
出版情報: Process Control and Inspection for Industry.  pp.417-426,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4222