1.

国際会議録

国際会議録
Amano, T. ; Hiro-Oka, H. ; Choi, D. ; Furukawa, H. ; Kano, F. ; Takeda, M. ; Nakanishi, M. ; Shimizu, K. ; Obayashi, K.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.375-382,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531
2.

国際会議録

国際会議録
Pawlowski, M. ; Sakano, Y. ; Miyamoto, Y. ; Takeda, M. ; Obayashi, K.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.121-126,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531