1.

国際会議録
国際会議録
1. Trapping Mechanisms by Cavities for Metallic Impurities in Monocrystalline Silicon
Regula, G. ; El Bouayadi, R. ; Pichaud, B. ; Lancin, M. ; Ntsoenzok, E.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.208-217,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05
2.

国際会議録
国際会議録
2. Evolution of Defects Induced by High Energy He Implantation in Gold-Diffused Silicon
Bouayadi, R. El ; Regula, G. ; Pichaud, B. ; Lancin, M. ; Simon, J.J. ; Ntsoenzok, E.
出版情報: Si front-end processing -- physics and technology of dopant-defect interactions III : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 669