1.

国際会議録

国際会議録
Regula, G. ; El Bouayadi, R. ; Pichaud, B. ; Lancin, M. ; Ntsoenzok, E.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.208-217,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05
2.

国際会議録

国際会議録
Liu, Changlong ; Delamare, R. ; Ntsoenzok, E. ; Regula, G. ; Pichaud, B. ; Veen, A. van
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.229-234,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
3.

国際会議録

国際会議録
Bouayadi, R. El ; Regula, G. ; Pichaud, B. ; Lancin, M. ; Simon, J.J. ; Ntsoenzok, E.
出版情報: Si front-end processing -- physics and technology of dopant-defect interactions III : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 669
4.

国際会議録

国際会議録
Ntsoenzok, E. ; Bouayadi, R.El ; Regula, G. ; Pichaud, B. ; Ashok, S.
出版情報: Semiconductor defect engineering - materials, synthetic structures and devices : symposium held March 28-April 1, 2005, San Francisco, California, U.S.A..  pp.461-466,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 864