1.

国際会議録

国際会議録
Ntsoenzok, E. ; Delamare, R. ; Alquier, D. ; Liu, C.L. ; Ashok, S. ; Ruault, M.O.
出版情報: High purity silicon VIII : proceedings of the international symposium.  pp.202-207,  2004.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2004-05
2.

国際会議録

国際会議録
Delamare, R. ; Ntsoenzok, E. ; Sauvage, T. ; Shiryaev, A. ; Veen, A. van ; Dubois, Ch.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.269-274,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719
3.

国際会議録

国際会議録
Liu, Changlong ; Delamare, R. ; Ntsoenzok, E. ; Regula, G. ; Pichaud, B. ; Veen, A. van
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices III : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.229-234,  2002.  Warrendale, Pa.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 719