1.

国際会議録
国際会議録
1. Impact of Body-to-Body Leakage on MOSFET Design Scaling in Partially Depleted SOI
Sleight, J.W. ; Bryant, A. ; Clark, W. ; leong, M. ; Nowak, E.J. ; Rausch, W. ; Sherony, M.J.
出版情報: Silicon-on-Insulator Technology and Devices X : proceedings of the tenth International Symposium.  pp.245-250,  2001.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2001-3
2.

国際会議録
国際会議録
2. Limitations of CMOS Scaling: What's Next (Invited paper)
Dunn, J. ; Joseph, A. ; Harame, D. ; Nowak, E.J. ; Meyerson, B.S.
出版情報: ULSI Process Integration : proceedings of the International Symposium.  pp.27-44,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-06
3.

国際会議録
国際会議録
3. BRINE TRANSPORT IN THE BEDDED SALT OF THE WASTE ISOLATION PILOT PLANT (WIPP): FIELD MEASUREMENTS AND A DARCY FLOW MDDEL
McTigue, D.F. ; Nowak, E.J.
出版情報: Scientific basis for nuclear waste management XI : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.209-218,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 112