1.

国際会議録

国際会議録
Nigam, T. ; Degraeve, R. ; Groeseneken, G. ; Heyns, M. ; Maes, H. E.
出版情報: Structure and electronic properties of ultrathin dielectric films on silicon and related structures : symposium held November 29-December 1, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.337-,  2000.  Warrendale, PA.  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 592
2.

国際会議録

国際会議録
Nigam, T. ; Depas, M. ; Heyns, M. ; Sofield, C. J. ; Mapeldoram, L.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VII : symposium held April 8-12, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.101-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 473