1.

国際会議録

国際会議録
Depas, M. ; Heyns, M.M. ; Nigam, T. ; Kenis, K. ; Sprey, H. ; Wilhelm, R. ; Crossley, A. ; Sofield, C.J. ; Graef, D.
出版情報: The physics and chemistry of SiO[2] and the Si-SiO[2] interface-3, 1996 : proceedings of the Third International Symposium on the Physics and Chemistry of SiO[2] and the Si-SiO[2] Interface.  pp.352-366,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-1
2.

国際会議録

国際会議録
Nigam, T. ; Depas, M. ; Heyns, M. ; Sofield, C. J. ; Mapeldoram, L.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VII : symposium held April 8-12, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.101-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 473