1.

国際会議録

国際会議録
Zappe,H.P. ; Sopra,F.M.di ; Gauggel,H.-P. ; Gulden,K.H. ; Hovel,R. ; Moser,M.
出版情報: Laser diodes and leds in industrial, measurement, imaging, and sensors applications II : testing, packaging, and reliability of semiconductor lasers V : 26-25 January 2000, San Jose, California.  pp.106-116,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3945
2.

国際会議録

国際会議録
Verschaffelt,G. ; Albert,J. ; Peeters,M. ; Panajotov,K. ; Danckaert,J. ; Veretennicoff,I.P. ; Thienpont,H. ; Sopra,F.Monti di ; Eitel,S. ; Hoevel,R. ; Moser,M. ; Zappe,H.P. ; Gulden,K.H.
出版情報: Vertical-cavity surface-emitting lasers IV : 26-28 January 2000, San Jose, California.  pp.246-257,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3946
3.

国際会議録

国際会議録
Maisenholder,B. ; Zappe,H.P. ; Kunz,R.E. ; Riel,P. ; Moser,M. ; Duveneck,G.L.
出版情報: Proceedings of biomedical systems and technologies : 8-10 September 1996, Vienna, Austria.  pp.144-152,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2928
4.

国際会議録

国際会議録
Zappe,H.P. ; Hofstetter,D. ; Maisenholder,B. ; Moser,M. ; Riel,P. ; Kunz,R.E.
出版情報: Microelectronic Structures and MEMS for Optical Processing III.  pp.180-187,  1997.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3226