1.

国際会議録
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1. High-spectral-purity VCSELs for spectroscopy and sensors
Zappe,H.P. ; Sopra,F.M.di ; Gauggel,H.-P. ; Gulden,K.H. ; Hovel,R. ; Moser,M.
出版情報: Laser diodes and leds in industrial, measurement, imaging, and sensors applications II : testing, packaging, and reliability of semiconductor lasers V : 26-25 January 2000, San Jose, California.  pp.106-116,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3945
2.

国際会議録
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2. Polarization switching and modulation dynamics in gain- and index-guided VCSELs
Verschaffelt,G. ; Albert,J. ; Peeters,M. ; Panajotov,K. ; Danckaert,J. ; Veretennicoff,I.P. ; Thienpont,H. ; Sopra,F.Monti di ; Eitel,S. ; Hoevel,R. ; Moser,M. ; Zappe,H.P. ; Gulden,K.H.
出版情報: Vertical-cavity surface-emitting lasers IV : 26-28 January 2000, San Jose, California.  pp.246-257,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3946
3.

国際会議録
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3. Internal quantum efficiency of AlGaInP microcavity light-emitting diodes
Royo,P. ; Stanley,R.P. ; Ilegems,M. ; Streubel,K.P. ; Moser,M. ; Gulden,K.H.
出版情報: Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications V.  pp.61-69,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4278
4.

国際会議録
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4. VCSEL arrays
Hunziker,S.G. ; Eitel,S. ; Gulden,K.H. ; Moser,M. ; Hovel,R. ; Gauggel,H.-P. ; Brunner,M.
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers V.  pp.119-126,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4286
5.

国際会議録
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5. Polarization anisotropy in ordered GalnP optoelectronic devices
Greger,E. ; Kippenberg,T. ; Kiesel,P. ; Moser,M. ; Gulden,K.H. ; Dohler,G.H.
出版情報: Physics and Simulation of Optoelectronic Devices VI.  Part 2  pp.666-674,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3283