1.

国際会議録

国際会議録
Maximov, I. ; Deppert, K. ; Montelius, L. ; Samuelson, L. ; Gray, S. ; Johansson, M. ; Hansson, H. -C. ; Wiedensohler, A.
出版情報: Determining nanoscale physical properties of materials by microscopy and spectroscopy.  pp.513-,  1994.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 332
2.

国際会議録

国際会議録
Pfeiffer, K. ; Reuther, F. ; Carlberg, P. ; Fink, M. ; Gruetzner, G. ; Montelius, L.
出版情報: Emerging Lithographic Technologies VII.  1  pp.203-210,  2003.  Bellingham, WA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5037
3.

国際会議録

国際会議録
Suyatin, D.B. ; Soldatov, E.S. ; Maximov, I. ; Montelius, L. ; Samuelson, L. ; Khomutov, G.B. ; Gubin, S.P. ; Sergeev-Cherenkov, A.N.
出版情報: 10th International Symposium on Nanostructures: Physics and Technology.  pp.327-329,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5023