1.

国際会議録
国際会議録
1. In Situ X-ray Diffraction Analysis of TiSi2 Phase Formation From a Titanium-Molybdenum Bilayer
Cabral, C., Jr. ; Clevenger, L. A. ; Harper, J. M. E. ; Roy, R. A. ; Saenger, K. L. ; Miles, G. L. ; Mann, R. W.
出版情報: Thin films - structure and morphology : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.295-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 441
2.

国際会議録
国際会議録
2. Reduction of the C54-TiSi2 Phase Formation Temperature Using Metallic Impurities
Mann, R. W. ; Clevenger, L. A. ; Miles, G. L. ; Harper, J. M. E. ; Cabral, C., Jr ; d'Heurle, F. M. ; Knotts, T. A. ; Rakowski, D. W.
出版情報: Silicide thin films - fabrication, properties, and applications : Symposium held November 27-30, 1995, Boston, Massachusetts, USA.  pp.95-,  1996.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 402