1.

国際会議録
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1. Simple Method to Extract the length Dependent Mobility Degradation Factor at 77 K
Nicolett, A.S. ; Martino, J.A. ; Simoen, E. ; Claeys, C.
出版情報: Proceedings of the fourth Symposium on Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity.  pp.159-170,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-2
2.

国際会議録
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2. Study of Series Resistance and Effective Channel Length Behavior Comparing Graded-Channel and Conventional SOI nMOSFETs
de Almeida, G.F. ; Nicolett, A.S. ; Martino, J.A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2003 : proceedings of the eighteenth international symposium.  pp.58-67,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-9
3.

国際会議録
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3. The Influence of the Interface Trap Densities on the Extraction of the Silicon Film and Front Oxide Thickness of SOI NMOS Devices at Low Temperatures
Nicolett, A.S. ; Martino, J.A. ; Simoen, F. ; Claeys, C.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2002 : proceedings of the seventeenth international symposium.  pp.28-34,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-8
4.

国際会議録
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4. Detcrmination of the Silicon Film Thickness and Back Oxide Charge Density on Graded- Channel SOI oMOSFETs
Nicolett, A.S. ; Martino, J.A. ; Pavanello, M.A.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2003 : proceedings of the eighteenth international symposium.  pp.147-155,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-9
5.

国際会議録
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5. Influence of the Back Gate Voltage on the Total Series Resistance of Fully Depleted SOI MOSFETS at 300 K and 77 K
Nicolett, A.S. ; Martino, J.A. ; Simoen, E. ; Claeys, C.
出版情報: Microelectronics technology and devices : SBMICRO 2002 : proceedings of the seventeenth international symposium.  pp.430-436,  2002.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2002-8