1.

国際会議録
国際会議録
1. Degradation Study Of Ultra-Thin JVD Silicon Nitride MNSFETs
ManjulaRani, K.N. ; Rao, V. Ramgopal ; Vasi, J.
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.209-214,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716
2.

国際会議録
国際会議録
2. Polarity Dependence Of Degradation In Ultra Thin Oxide And Jvd Nitride Gate Dielectrics
Mutha, Yatin ; ManjulaRani, K.N. ; Lal, Rakesh ; Rao, V. Ramgopal
出版情報: Silicon materials - processing characterization and reliability : symposium held April 1-5, 2002, San Francisco, California, U.S.A..  pp.369-374,  2002.  Warrendale.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 716