1.

国際会議録

国際会議録
Park, J.C. ; Lee, J.D. ; Venables, D. ; Krause, S. ; Roitman, P.
出版情報: Beam-solid interactions : fundamentals and applications : symposium held November 30-December 4, 1992, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.153-158,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 279
2.

国際会議録

国際会議録
Nam, I.-H. ; Hong, S.I. ; Sim, J.S. ; Park, B.-G. ; Lee, J.D. ; Lee, S.-W. ; Kang, M.-S. ; Kim, Y.-W. ; Suh, K.-P.
出版情報: The physics and chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 interface-4, 2000 : proceedings of the fourth International Symposium on the Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface, Tronto, Canada, May 15-18, 2000.  pp.199-208,  2000.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2000-2
3.

国際会議録

国際会議録
Park, K.H. ; Kim, K.Y. ; Lee, J.D. ; Kang, T.S. ; Park, H.C. ; Yoon, K.J.
出版情報: Smart structures and materials 2003 : Smart structures and integrated systems : 3-6 March 2003, San Diego, California, USA.  pp.225-228,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5056
4.

国際会議録

国際会議録
Carslaw, N. ; Heard, D.E. ; Lee, J.D. ; Lewis, A.C. ; Pilling, M.J. ; Saunders, S.M.
出版情報: Global atmospheric change and its impact on regional air quality : [proceedings of the NATO Advanced Research Workshop on Global Atmospheric Change and its Impact on Regional Air Quality, held in Irkutsk, Russian Federation, August 21-27, 2001].  pp.7-12,  2002.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO science series. Series 4, Earth and environmental sciences
シリーズ巻号: 16
5.

国際会議録

国際会議録
Hovel, H. ; Alnionte, M. ; Tsai, P. ; Lee, J.D. ; Maurer, S. ; Kleinhenz, R. ; Schepis, D. ; Murphy, R. ; Ronsheim, P. ; Domemcucci, A. ; Rettinger, J. ; Sadana, D.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.75-80,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
6.

国際会議録

国際会議録
Lee, J.D. ; Park, J.C. ; Krause, S.J. ; Venables, D. ; Roitman, P.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.82-91,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11
7.

国際会議録

国際会議録
Roitman, P. ; Mayo, S. ; Simons, D. ; Krause, S.J. ; Venables, D. ; Park, J.C. ; Lee, J.D. ; Lenahan, P. ; Conley, J.
出版情報: Proceedings of the Sixth International Symposium on Silicon-on-Insulator Technology and Devices.  pp.92-97,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-11
8.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Lee, J.D.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-CR-175089),  pp.1-31,  1986.  National Aeronautics and Space Administration
9.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Rodman, L.C. ; Childs, R.E. ; Wesley, L.P. ; Lee, J.D.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-10,  1998.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 1998
10.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Wesley, L.P. ; Lee, J.D. ; Rodman, L.C. ; Childs, R.E.
出版情報: AIAA paper.  pp.1-11,  1998.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 1998
11.

国際会議録

国際会議録
Choi, Y. ; Chang, H. ; Lee, J.D. ; Kim, E. ; No, K.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVI.  Part One  pp.455-461,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4689
12.

国際会議録

国際会議録
Lee, S.H. ; Yoo, S.K. ; Kim, Y.O. ; Jung, H. ; Kim, S.R. ; Yun, M. ; Lee, J.D. ; Kim, H.-J.
出版情報: Medical Imaging 2004: Visualization, Image-Guided Procedures, and Display.  pp.758-765,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5367