1.

国際会議録

国際会議録
Chikarmane, V. ; Kim, J. ; Sudhama, C. ; Lee, J. ; Tasch, A. ; Novak, S.
出版情報: Ferroelectric thin films II : symposium held December 2-4, 1991, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.367-372,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 243
2.

国際会議録

国際会議録
Lee, J. ; Kim, J. ; Kim, H.
出版情報: AIChE ANNUAL MEETING - NOVEMBER 10-15, 1996 - CHICAGO, IL.  1996.  New York.  American Institute of Chemical Engineers
シリーズ名: AIChE meeting [papers]
シリーズ巻号: 1996
3.

国際会議録

国際会議録
Bae, J. ; Kim, J. ; Hwang, I ; Kim, H. ; Lee, J. ; Park, H. ; Tominaga, J.
出版情報: Optical Data Storage 2006 : 23-26 April 2006, Montreal, Canada.  pp.628217-628218,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6282
4.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Koscheyev, V.S. ; Lee, J. ; Kim, J. ; Leon, G.R. ; Kwon, S.
出版情報: 38th International Conference on Environmental Systems : SAE technical paper.  2008.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2008
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Chung, T. ; Yi, K. ; Kim, J. ; Lee, J.
出版情報: 2004 SAE world congress : technical paper.  2004.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2004
6.

国際会議録

国際会議録
Kim, T. ; Lee, J. ; Lee, S. ; Yoo, J ; Kim, K. ; Kim, J. ; Cho, S ; Lim, S ; Kim, G ; Park, Y
出版情報: Vertical-Cavity Surface-Emitting Lasers X.  pp.61320D-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6132
7.

国際会議録

国際会議録
Park, C. ; Lee, J. ; Yang, K. ; Tseng, S. ; Min, Y.-H ; Yang, H. ; Yim, D. ; Kim, J.
出版情報: Optical Microlithography XIX.  pp.61540F-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6154
8.

国際会議録

国際会議録
Hong, J. ; Lee, J. ; Kang, E. ; Yang, H. ; Yim, D. ; Kim, J.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XX.  pp.61522N-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6152
9.

国際会議録

国際会議録
Kim, D. ; Lee, D. ; Lee, J. ; Park, H. ; Lim, H. ; Ahn, J. ; Kim, J.
出版情報: Medical Imaging 2002: PACS and Integrated Medical Information Systems: Design and Evaluation.  pp.407-415,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4685