1.

国際会議録

国際会議録
Ullmann,J. ; Mertin,M. ; Lauth,H. ; Bernitzki,H. ; Mann,K. ; Ristau,D. ; Arens,W. ; Thielsch,R. ; Kaiser,N.
出版情報: Laser-induced damage in optical materials, 1999 : 31th Annual Boulder Damage Symposium, proceedings, 4-7, October, 1999, Boulder, Colorado.  pp.514-527,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3902
2.

国際会議録

国際会議録
Arens,W. ; Ristau,D. ; Ullmann,J. ; Zaczek,C. ; Thielsch,R. ; Kaiser,N. ; Duparre,A. ; Apel,O. ; Mann,K.R. ; Lauth,H. ; Bernitzki,H. ; Ebert,J. ; Schippel,St. ; Heyer,H.
出版情報: Laser-induced damage in optical materials, 1999 : 31th Annual Boulder Damage Symposium, proceedings, 4-7, October, 1999, Boulder, Colorado.  pp.250-259,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3902
3.

国際会議録

国際会議録
Laux,S. ; Bernitzki,H. ; Klaus,M. ; Lauth,H. ; Kaiser,N.
出版情報: Laser-induced damage in optical materials, 2000 : 32nd Annual Boulder Damage Symposium, proceedings, 16-18, October, 2000, Boulder, Colorado.  pp.13-16,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4347
4.

国際会議録

国際会議録
Bernitzki,H. ; Lauth,H. ; Thielsch,R. ; Blaschke,H. ; Kaiser,N. ; Mann,K.R.
出版情報: Laser-Induced Damage in Optical Materials: 1998.  pp.105-116,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3578
5.

国際会議録

国際会議録
Ullmann,J. ; Mertin,M. ; Lauth,H. ; Bernitzki,H. ; Mann,K.R. ; Ristau,D. ; Arens,W. ; Thielsch,R. ; Kaiser,N.
出版情報: Laser-Induced Damage in Optical Materials: 1998.  pp.64-64,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3578