1.

国際会議録

国際会議録
Stevie, F.A. ; Persson, E. ; DeBusk, D.K. ; Savchuk, A. ; Hoff, A.M. ; Edelman, P. ; Lagowski, J.
出版情報: Proceedings of the Electrochemical Society Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices.  pp.357-364,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-12
2.

国際会議録

国際会議録
Sun, Q. ; Lagowski, J. ; Gatos, H. C.
出版情報: Defects in electronic materials : symposium held November 30-December 3, 1987, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.205-208,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 104
3.

国際会議録

国際会議録
Nauka, K. ; Lagowski, J. ; Gatos, H. C.
出版情報: Impurity diffusion and gettering in silicon : symposium held November 27-30, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.175-180,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 36
4.

国際会議録

国際会議録
Gatos, H. C. ; Lagowski, J.
出版情報: Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A..  pp.153-168,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 46
5.

国際会議録

国際会議録
Nauka, K. ; Gatos, H. C. ; Lagowski, J.
出版情報: Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.177-180,  1983.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 14
6.

国際会議録

国際会議録
L:I, C.-J. ; Sun, Q. ; Lagowski, J. ; Gatos, H. C.
出版情報: Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A..  pp.441-446,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 46
7.

国際会議録

国際会議録
Nauka, K. ; Walukiewicz, W. ; Lagowski, J. ; Gatos, H. C.
出版情報: Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A..  pp.291-296,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 46
8.

国際会議録

国際会議録
Ueda, O. ; Nauka, K. ; Lagowski, J. ; Gatos, H.C.
出版情報: Materials issues in silicon integrated circuit processing : symposium held April 15-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A..  pp.21-26,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 71
9.

国際会議録

国際会議録
Skowronski, M. ; Lin, D. G. ; Lagowski, J. ; Pawlowicz, L..M. ; Ko, K. Y. ; Gatos, H. C.
出版情報: Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A..  pp.207-212,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 46
10.

国際会議録

国際会議録
Kontkiewicz, A. M. ; Lagowski, J. ; Dexter, M. ; Edelman, P.
出版情報: Diagnostic techniques for semiconductor materials processing : Symposium held November 29-December 2, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.439-,  1994.  Pittsburgh.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 324
11.

国際会議録

国際会議録
Sen, S. ; Kontkiewicz, A. J. ; Kontkiewicz, A. M. ; Nowak. G. ; Siejka, J. ; Sakthivel, P. ; Ahmed, K. ; Mukherjee, P. ; Witanachchi, S. ; Hoff, A. M. ; Lagowski, J.
出版情報: Microcrystalline and nanocrystalline semiconductors : Symposium held November 29-December 2, 1994, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.369-,  1995.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 358
12.

国際会議録

国際会議録
Lagowski, J. ; Hoff, A. ; Jastrzebski, L. ; Edelman, P. ; Esry, T.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.437-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
13.

国際会議録

国際会議録
Edelman, P. ; Lagowski, J. ; Savchouk, A. ; Hoff, A. ; Jastrzebski, L. ; Persson, E.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.443-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428
14.

国際会議録

国際会議録
Wilson, M. ; Lagowski, J. ; Savtchou, A. ; Marinskiy, D. ; Jastrzebski, L. ; D'Amico, J.
出版情報: Structure and electronic properties of ultrathin dielectric films on silicon and related structures : symposium held November 29-December 1, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.345-,  2000.  Warrendale, PA.  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 592
15.

国際会議録

国際会議録
Marinskiy, D. ; Lagowski, J. ; Wilson, M. ; Savtchouk, A. ; Jastrzebski, L. ; DeBusk, D.
出版情報: Nondestructive methods for materials characterization : symposium held November 29-30, 1999, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.225-,  2000.  Warrendale, Pa..  MRS-Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 591
16.

国際会議録

国際会議録
Ostapenko, S. ; Henley, W. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.405-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
17.

国際会議録

国際会議録
Ostapenko, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J. ; Smeltzer, R. K.
出版情報: Flat panel display materials II : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.201-,  1997.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 424
18.

国際会議録

国際会議録
Faifer, V. ; Edelman, P. ; Kontkiewicz, A. ; Lagowski, J. ; Hoff, A. ; Dyukov, V. ; Pravdivtsev, A. ; Kornienko, I.
出版情報: ALTECH 95 : analytical techniques for semiconductor materials and process characterization II : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 95, The Hague, The Netherlands.  pp.73-82,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-30
19.

国際会議録

国際会議録
Sen, S. ; Hoff, A.M. ; Moradi, B. ; Lagowski, J. ; Jastrzebski, L.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.269-278,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
20.

国際会議録

国際会議録
Henley, W. ; Ostepenko, S. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.265-268,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
21.

国際会議録

国際会議録
Marinskiy, D. ; Lagowski, J.
出版情報: Si front-end processing -- physics and technology of dopant-defect interactions III : symposium held April 17-19, 2001, San Francisco, California, U.S.A..  2001.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 669
22.

国際会議録

国際会議録
Ostapenko, S. ; Karimpanakkel, S. ; Jastrzebski, L. ; Lagowski, J.
出版情報: Proceedings of the Second Symposium on Thin Film Transistor Technologies.  pp.61-67,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-35
23.

国際会議録

国際会議録
Savtchouk, A. ; Oborina, E. ; Hoff, A.M. ; Lagowski, J.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.755-758,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460
24.

国際会議録

国際会議録
Lagowski, J. ; Faifer, V. ; Edelman, P.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.512-522,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
25.

国際会議録

国際会議録
Becla, P. ; Witt, A. G. ; Lagowski, J. ; Walukiewicz, W.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors and devices : symposium held April 17-21, 1995, San Francisco, California, U.S.A..  pp.47-,  1995.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 378
26.

国際会議録

国際会議録
Lagowski, J. ; Edelman, P.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.523-532,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
27.

国際会議録

国際会議録
Hoff, A.M. ; Lagowski, J. ; Nauka, N. ; Esry, T.C. ; Edelman, P. ; Jastrzebski, L.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.544-553,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13
28.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Lagowski, J. ; Gatos, H. C. ; Aoyama, T. ; Lin, D. G. ; Ruda, H. E. ; Walukiewicz, W. ; Le, Wang ; Pawlowicz, L.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-TM-87568),  pp.1-1,  1985.  National Aeronautics and Space Administration
29.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Gatos, H. C. ; Lagowski, J.
出版情報: NASA Technical Reports.  (NASA-CP-2314),  pp.1-1,  1984.  National Aeronautics and Space Administration