1.

国際会議録
国際会議録
1. INTERNAL GETTERING IN OXYGEN-FREE SILICON
Nauka, K. ; Lagowski, J. ; Gatos, H. C.
出版情報: Impurity diffusion and gettering in silicon : symposium held November 27-30, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.175-180,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 36
2.

国際会議録
国際会議録
2. CORRELATION OF OXYGEN AND RECOMBINATION CENTERS ON A MICROSCALE IN Aa-GROWN CZOCHRALSKI SILICON CRYSTALS
Nauka, K. ; Gatos, H. C. ; Lagowski, J.
出版情報: Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.177-180,  1983.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 14
3.

国際会議録
国際会議録
3. SCATTERING OF FREE CARRIERS BY OXYGEN PRECIPITATES IN CZOCHRALSKI-GROWN SILICON
Nauka, K. ; Walukiewicz, W. ; Lagowski, J. ; Gatos, H. C.
出版情報: Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A..  pp.291-296,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 46
4.

国際会議録
国際会議録
4. ON THE MECHANISM OF INTRINSIC GETTERING BY BUTTERFLY-TYPE DEFECTS IN SILICON
Ueda, O. ; Nauka, K. ; Lagowski, J. ; Gatos, H.C.
出版情報: Materials issues in silicon integrated circuit processing : symposium held April 15-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A..  pp.21-26,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 71