1.

国際会議録
国際会議録
1. RELATIVE LATTICE PARAMETER MEASUREMENT IN QUATERNARY (InGaAsP) LAYERS ON InP SUBSTRATES USING CONVERGENT BEAM ELECTRON DIFFRACTION
Twigg, M.E. ; Chu, S.N.G. ; Joy, D.C. ; Maher, D.M. ; Macrander, A.T. ; Nakahara, S. ; Chin, A.K.
出版情報: Materials characterization : symposium held April 15-17, 1986, Palo Alto California, U.S.A..  pp.147-152,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 69
2.

国際会議録
国際会議録
2. TRAPPING OF OXYGEN AT HOMOEPITAXIAL Si/Si INTERFACES GROWTH BY MODULAR BEAM EPITAXY
Hull, R. ; Twigg, M.E. ; Bean, J.C. ; Gibson J.M. ; Joy, D.C.
出版情報: Oxygen, carbon, hydrogen, and nitrogen in crystalline silicon : symposium held December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.317-322,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 59