1.

国際会議録

国際会議録
Resnick, D.J. ; Dauksher, W.J. ; Mancini, D.P. ; Nordquist, K.J. ; Ainley, E.S. ; Gehoski, K.A. ; Baker, J.H. ; Bailey, T.C. ; Choi, B.J. ; Johnson, S. ; Sreenivasan, S.V. ; Ekerdt, J.G. ; Willson, C.G.
出版情報: Emerging Lithographic Technologies VI.  Part One  pp.205-213,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4688
2.

国際会議録

国際会議録
Resnick, D.J. ; Bailey, T.C. ; Mancini, D.P. ; Nordquist, K.J. ; Dauksher, W.J. ; Ainley, E.S. ; Talin, A. ; Gehoski, K.A. ; Baker, J.H. ; Choi, B.J. ; Johnson, S. ; Colburn, M. ; Meissl, M.J. ; Sreenivasan, S.V. ; Ekerdt, J.G. ; Willson, C.G.
出版情報: Nanostructure Science, Metrology, and Technology.  pp.176-181,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4608