1.

国際会議録
国際会議録
1. Analysis of High Leakage Currents in 4H-SiC Schottky Barrier Diodes Using Optical Beam-Induced Current Measurements
Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueda, A. ; Fujisawa, H. ; Ueno, K. ; Tsuchida, H. ; Kamata, I. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1141-1144,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
2.

国際会議録
国際会議録
2. Electroluminescence Analysis of Al+ and B+ Implanted pn Diodes
Fujisawa, H. ; Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueno, K. ; Kamata, I. ; Tsuchida, T. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1297-1300,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
3.

国際会議録
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3. Homoepitaxial Growth and Characterization of Thick SiC Layers With a Reduced Micropipe Density
Tsuchida, H. ; Kamata, I. ; Izumi, S. ; Tawara, T. ; Jikimoto, T. ; Miyanagi, T. ; Nakamura, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide 2004--materials, processing and devices : symposium held April 14-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.35-46,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 815
4.

国際会議録
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4. Electroluminescence Analysis of Al+ and B+ Implanted pn Diodes
Fujisawa, H. ; Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueno, K. ; Kamata, I. ; Tsuchida, T. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1297-1300,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393
5.

国際会議録
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5. Analysis of High Leakage Currents in 4H-SiC Schottky Barrier Diodes Using Optical Beam-Induced Current Measurements
Tsuji, T. ; Izumi, S. ; Ueda, A. ; Fujisawa, H. ; Ueno, K. ; Tsuchida, H. ; Kamata, I. ; Jikimoto, T. ; Izumi, K.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2001 : ICSCRM2001, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001, Tsukuba, Japan, October 28-November 2, 2001.  pp.1141-1144,  2002.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 389-393