1.

国際会議録
国際会議録
1. Three-dimensional topography measurement with triangular beam scanning technique
Jiang,J. ; He,Y. ; Zhao,W.
出版情報: Rough surface scattering and contamination : 21-23 July 1999, Denver, Colorado.  pp.354-361,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3784
2.

国際会議録
国際会議録
2. Noncontact high-precision surface 3D profiler
Jiang,J. ; He,Y. ; Zhao,W.
出版情報: Rough surface scattering and contamination : 21-23 July 1999, Denver, Colorado.  pp.362-369,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3784
3.

国際会議録
国際会議録
3. Laser texturing process and surface quality control
Jiang,J. ; He,Y. ; Yan,Y. ; Zhao,W. ; Xu,Y.
出版情報: First International Symposium on Laser Precision Microfabrication : 14-16 June 2000, Omiya, Saitama, Japan.  pp.240-243,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4088
4.

国際会議録
国際会議録
4. Surface 3D topography measurement of roller
Jiang,J. ; He,Y. ; Zhao,W. ; Xu,Y. ; Yan,G.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.125-128,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221