1.

国際会議録

国際会議録
Liu,Y. ; Liu,W. ; Zhang,B. ; Wang,X. ; Jiang,J.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.252-256,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
2.

国際会議録

国際会議録
Liu,Y. ; Ma,Y. ; Jiang,J. ; Shi,J.
出版情報: Automated optical inspection for industry : 6-7 November 1996, Beijing, China.  pp.550-561,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2899
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Wu,X. ; Hao,H. ; Liu,Y. ; Zhu,F. ; Jiang,J. ; Krishnamurthy,R. ; Wang,S. ; Smith,P.E. ; Bland,W. ; Pfaffmann,G.D.
出版情報: Light Metals for the Automotive Industry ; Detroit, Michigan, March 4-7, 2002.  pp.9-20,  2002.  Society of Automotive Engineering, Inc.
シリーズ名: SAE special publication
シリーズ巻号: SP-1683