1.

国際会議録

国際会議録
X. Wei ; Z. Wu ; T. Wang ; S. Li ; J. Tang
出版情報: Optical test and measurement technology and equipment.  2  pp.672342-1-672342-5,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6723
2.

国際会議録

国際会議録
J. Tang ; G. Liu ; J. Wang ; Z. Wu ; Y. Zhao
出版情報: 4th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies: Advanced Optical Manufacturing Technologies.  2  pp.72822U-1-72822U-5,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7282
3.

国際会議録

国際会議録
X. Wei ; Z. Wu ; X. Xu ; T. Wang ; J. Tang
出版情報: Sixth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 25-28 September 2007, Shanghai, China.  pp.69842J-1-69842J-4,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6984
4.

国際会議録

国際会議録
X. Wei ; Z. Wu ; T. Wang ; X. Xu ; J. Tang
出版情報: Sixth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 25-28 September 2007, Shanghai, China.  pp.69842K-1-69842K-4,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6984