1.

国際会議録

国際会議録
C. J. Zhuang ; Q. R. Ma ; Y. R. Feng ; J. Kang
出版情報: Pipeline Technology : presented at the 18th International Conference on Offshore Mechanics and Arctic Engineering, July 11-16, 1999, St. John's, Newfoundland, Canada.  4  pp.67-72,  1999.  New York.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Symposia Volumes
シリーズ巻号: OMAE 18(4)
2.

国際会議録

国際会議録
D.-J. Kim ; J. Kang ; Y. Kim
出版情報: Proceedings of the ALOS PI 2008 Symposium, 3-7 November 2008, Island of Rhodes, Greece.  2009.  Noordwijk, The Netherlands.  ESA Communication Production Office
シリーズ名: ESA SP
シリーズ巻号: 664
3.

国際会議録

国際会議録
Y. Zhang ; D. Li ; Z. Wu ; J. Zheng ; X. Lin ; H. Zhan ; S. Li ; J. Kang ; J. Bleuse ; L. Grenet ; D. Rapisarda ; H. Mariette
出版情報: Compound semiconductors for generating, emitting, and manipulating energy : symposium held November 28-December 2, 2011, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.87-92,  2012.  Warrendale, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 1396
4.

国際会議録

国際会議録
S. Paek ; J. Kang ; Y. Seo
出版情報: Visual communications and image processing '94 : 25-29 September 1994, Chicago, Illinois.  pp.322-330,  1994.  Bellingham, WA.  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2308
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
J. Kang ; H. Oh
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va.  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Astrodynamics Specialist Conference
シリーズ巻号: 2006
6.

国際会議録

国際会議録
J.H. Zhao ; D.F. Li ; G. Yuan ; X.Q. Wang ; R.H. Li ; J. Kang ; H.S. Di
出版情報: IUMRS International Conference in Asia.  pp.1094-1102,  2017.  Aedermannsdorf, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 898
7.

国際会議録

国際会議録
W. Ma ; Y. Hwang ; E. Kang ; S. Park ; J. Kang ; C. Lim ; S. Moon
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
8.

国際会議録

国際会議録
Y. Jeon ; S. Jun ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
9.

国際会議録

国際会議録
J. Choi ; J. Kang ; Y. Shim ; K. Yun ; J. Hong ; Y. Lee ; K. Kim
出版情報: Optical microlithography XX.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6520
10.

国際会議録

国際会議録
Y. Shim ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518
11.

国際会議録

国際会議録
M. Kim ; J. Kang ; S. Kang ; G. Jeong ; Y. Choi
出版情報: Photomask technology 2007.  3  pp.67304V-1-67304V-8,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6730
12.

国際会議録

国際会議録
K. Ban ; S. Park ; C. Bok ; H. Lim ; J. Heo ; H. Chun ; J. Kang ; S. Moon
出版情報: Advances in resist materials and processing technology XXIV.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6519
13.

国際会議録

国際会議録
J. Hu ; Z. He ; J. Kang ; P. Liu ; X. Wei
出版情報: Geoinformatics 2008 and Joint Conference on GIS and Built Environment: The Built Environment and Its Dynamics.  1  pp.71440L-1-71440L-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7144
14.

国際会議録

国際会議録
Y. Zhu ; H. Qi ; J. Kang
出版情報: 2008 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optical Systems and Optoelectronic Instruments.  1  pp.715619-1-715619-4,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7156
15.

国際会議録

国際会議録
Y. Zheng ; L. Zhang ; L. Jia ; J. Kang
出版情報: 2008 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optical Systems and Optoelectronic Instruments.  2  pp.71562F-1-71562F-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7156
16.

国際会議録

国際会議録
W. Ma ; J. Kang ; C. Lim ; H. Kim ; S. Moon
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXII.  2  pp.69222T-1-69222T-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6922
17.

国際会議録

国際会議録
J. Kang ; S. uk Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報: Design for manufacturability through design-process integration : 28 February-2 March 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6521
18.

国際会議録

国際会議録
Z. Tan ; J. Kang ; W. Gong ; H. Chen
出版情報: International Symposium on Photoelectronic Detection and Imaging 2007, photoelectronic imaging and detection : 9-12 September 2007, Beijing China.  pp.66211O-1-66211O-8,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6621
19.

国際会議録

国際会議録
J. Lim ; J. Kang ; H. Ok
出版情報: Digital photography IV : 28-29 January 2008, San Jose, California, USA.  pp.68170S-1-68170S-14,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6817
20.

国際会議録

国際会議録
Z. Q. Gan ; Y. Tian ; D. W. Lynch ; J. Kang ; Q-H. Park
出版情報: Organic light emitting materials and devices XI : 26-29 August 2007, San Diego, California, USA.  pp.66550K-1-66550K-15,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6655
21.

国際会議録

国際会議録
Z. Fang ; S. Li ; J. Kang
出版情報: Sixth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 25-28 September 2007, Shanghai, China.  pp.69842V-1-69842V-4,  2008.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6984
22.

国際会議録

国際会議録
J. Kang ; A. Feng ; C. Li ; S. Xu
出版情報: Microelectronic and optoelectronic devices and integration : 2008 International Conference on Optical Instruments and Technology : 16-19 November 2008, Beijing, China.  pp.71581E-1-71581E-6,  2009.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 7158
23.

国際会議録

国際会議録
J. Seo ; J. Kang ; K. Sohn
出版情報: Three-dimensional TV, video, and display VI : 11-12 September 2007, Boston, Massachusetts, USA.  pp.67780F-1-67780F-9,  2007.  Bellingham, Wash..  Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6778
24.

国際会議録

国際会議録
S. Yun ; J. Song ; I. Yeo ; Y. Choi ; V. Yurlov ; S. An ; H. Park ; H. Yang ; Y. Lee ; K. Han ; I. Shyshkin ; A. Lapchuk ; K. Oh ; S. Ryu ; J. Jang ; C. Park ; C. Kim ; S. Kim ; E. Kim ; K. Woo ; J. Yang ; J. Kim ; S. Byun ; S. Lee ; O. Lim ; J. Cheong ; Y. Hwang ; G. Byun ; J. Kyoung ; S. Yoon ; J. Lee ; T. Lee ; S. Hong ; Y. Hong ; D. Park ; J. Kang ; W. Shin ; S. Oh ; B. Song ; H. Kim ; C. Koh ; Y. Ryu ; H. Lee ; Y. Baek
出版情報: Emerging liquid crystal technologies II : 21-22 and 24 January 2007, San Jose, California, USA.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6487