1.
国際会議録
C. J. Zhuang ; Q. R. Ma ; Y. R. Feng ; J. Kang
出版情報:
Pipeline Technology : presented at the 18th International Conference on Offshore Mechanics and Arctic Engineering, July 11-16, 1999, St. John's, Newfoundland, Canada . 4 pp.67-72, 1999. New York. American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名:
ASME Symposia Volumes
シリーズ巻号:
OMAE 18(4)
2.
国際会議録
D.-J. Kim ; J. Kang ; Y. Kim
出版情報:
Proceedings of the ALOS PI 2008 Symposium, 3-7 November 2008, Island of Rhodes, Greece . 2009. Noordwijk, The Netherlands. ESA Communication Production Office
シリーズ名:
ESA SP
シリーズ巻号:
664
3.
国際会議録
Y. Zhang ; D. Li ; Z. Wu ; J. Zheng ; X. Lin ; H. Zhan ; S. Li ; J. Kang ; J. Bleuse ; L. Grenet ; D. Rapisarda ; H. Mariette
出版情報:
Compound semiconductors for generating, emitting, and manipulating energy : symposium held November 28-December 2, 2011, Boston, Massachusetts, U.S.A. . pp.87-92, 2012. Warrendale, PA. Materials Research Society
シリーズ名:
Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号:
1396
4.
国際会議録
S. Paek ; J. Kang ; Y. Seo
出版情報:
Visual communications and image processing '94 : 25-29 September 1994, Chicago, Illinois . pp.322-330, 1994. Bellingham, WA. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
2308
5.
国際会議録
J.H. Zhao ; D.F. Li ; G. Yuan ; X.Q. Wang ; R.H. Li ; J. Kang ; H.S. Di
出版情報:
IUMRS International Conference in Asia . pp.1094-1102, 2017. Aedermannsdorf, Switzerland. Trans Tech Publications
シリーズ名:
Materials science forum
シリーズ巻号:
898
6.
国際会議録
W. Ma ; Y. Hwang ; E. Kang ; S. Park ; J. Kang ; C. Lim ; S. Moon
出版情報:
Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6518
7.
国際会議録
Y. Jeon ; S. Jun ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報:
Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6518
8.
国際会議録
J. Choi ; J. Kang ; Y. Shim ; K. Yun ; J. Hong ; Y. Lee ; K. Kim
出版情報:
Optical microlithography XX . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6520
9.
国際会議録
Y. Shim ; J. Kang ; S. Lee ; J. Kim ; K. Kim
出版情報:
Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI . 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6518
10.
国際会議録
M. Kim ; J. Kang ; S. Kang ; G. Jeong ; Y. Choi
出版情報:
Photomask technology 2007 . 3 pp.67304V-1-67304V-8, 2007. Bellingham, Wash.. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
シリーズ名:
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号:
6730