1.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
D. Cho ; S. Won ; E. Shin ; J. Choi
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2009.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2009
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
D. Cho ; S. Won ; J. Shin ; J. Choi
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
J. Choi ; E. Shin ; D. Cho ; I. Jeung ; V. Yang
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
4.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
S. Won ; I. Jeung ; J. Shin ; D. Cho ; J. Choi
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : International Space Planes and Hypersonic Systems and Technologies Conference
シリーズ巻号: 2008
5.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
D. Cho ; S. Won ; J. Choi ; F. Ma ; V. Yang
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2006.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2006
6.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
S. Lee ; D. Cho ; J. Choi
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
7.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
J. Shin ; D. Cho ; S. Lee ; J. Choi
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit
シリーズ巻号: 2008
8.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
J. Shin ; D. Cho ; S. Won ; J. Choi
出版情報: AIAA meeting papers on disc.  2008.  Reston, Va..  American Institute of Aeronautics and Astronautics
シリーズ名: AIAA Paper : International Space Planes and Hypersonic Systems and Technologies Conference
シリーズ巻号: 2008
9.

国際会議録

国際会議録
B. Lee ; J. Choi ; S. Chin ; D. Cho ; C. Song
出版情報: Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6518