1.
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テクニカルペーパー
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D. Cho ; S. Won ; E. Shin ; J. Choi
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2009. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit |
シリーズ巻号: |
2009 |
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2.
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テクニカルペーパー
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D. Cho ; S. Won ; J. Shin ; J. Choi
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2008. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit |
シリーズ巻号: |
2008 |
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3.
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テクニカルペーパー
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J. Choi ; E. Shin ; D. Cho ; I. Jeung ; V. Yang
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2008. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit |
シリーズ巻号: |
2008 |
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4.
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テクニカルペーパー
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S. Won ; I. Jeung ; J. Shin ; D. Cho ; J. Choi
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2008. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : International Space Planes and Hypersonic Systems and Technologies Conference |
シリーズ巻号: |
2008 |
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5.
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テクニカルペーパー
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D. Cho ; S. Won ; J. Choi ; F. Ma ; V. Yang
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2006. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit |
シリーズ巻号: |
2006 |
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6.
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テクニカルペーパー
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S. Lee ; D. Cho ; J. Choi
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2008. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit |
シリーズ巻号: |
2008 |
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7.
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テクニカルペーパー
|
J. Shin ; D. Cho ; S. Lee ; J. Choi
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2008. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : Aerospace Sciences Meeting and Exhibit |
シリーズ巻号: |
2008 |
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8.
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テクニカルペーパー
|
J. Shin ; D. Cho ; S. Won ; J. Choi
出版情報: |
AIAA meeting papers on disc. 2008. Reston, Va.. American Institute of Aeronautics and Astronautics |
シリーズ名: |
AIAA Paper : International Space Planes and Hypersonic Systems and Technologies Conference |
シリーズ巻号: |
2008 |
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9.
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国際会議録
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B. Lee ; J. Choi ; S. Chin ; D. Cho ; C. Song
出版情報: |
Metrology, inspection, and process control for microlithography XXI. 2007. Bellingham, Wash.. SPIE - The International Society of Optical Engineering |
シリーズ名: |
Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering |
シリーズ巻号: |
6518 |
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