1.

国際会議録
国際会議録
1. Influence of the N-Type FinFET Width on the Zero Temperature Coefficient
M. Bellodi ; J. A. Martino ; L. M. Camiio ; E. Simoen ; C. Claeys
出版情報: Microelectronics Technology and Devices : SBMICRO 2007.  pp.29-36,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 9(1)
2.

国際会議録
国際会議録
2. Simple Analytical Model to Study the ZTC Bias Point in FinFETs
M. Bellodi ; L. Camillo ; J. A. Martino ; E. Simoen ; C. Claeys
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices 13.  pp.205-210,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 6(4)