1.

国際会議録

国際会議録
Visser,G.J. ; Binns,W.R. ; Dowkontt,P.F. ; Hink,P.L. ; Kippen,R.M. ; Kleinfelder,S. ; Macri,J.R. ; Pendleton,G.N. ; Rielage,K.R. ; Tumer,T.O.
出版情報: Hard X-ray, gamma-ray, and neutron detector physics II : 31 July-2 August 2000, San Diego, USA.  pp.253-262,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4141
2.

国際会議録

国際会議録
Matteson,J.L. ; Duttweiler,F. ; Huszar,G.L. ; Leblanc,P.C. ; Skelton,R.E. ; Stephan,E.A. ; Hink,P.L. ; Dowkontt,P.F. ; Slavis,K.R. ; Tumer,T.O. ; Kravis,S.D.
出版情報: Hard X-ray and gamma-ray detector physics and applications : 22-23 July 1998, San Diego, California.  pp.192-201,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3446
3.

国際会議録

国際会議録
Slavis,K.R. ; Dowkontt,P.F. ; Duttweiler,F. ; Epstein,J.W. ; Hink,P.L. ; Huszar,G.L. ; Kalemci,E. ; Leblanc,P.C. ; Matteson,J.L. ; Relling,M.R. ; Rothschild,R.E. ; Stephan,E.A. ; Tumer,T.O. ; Visser,G.J.
出版情報: X-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy XI : 2-4 August 2000 San Diego, USA.  pp.249-256,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4140
4.

国際会議録

国際会議録
Slavis,K.R. ; Dowkontt,P.F. ; Duttweiller,F. ; Epstein,J.W. ; Hink,P.L. ; Huszar,G.L. ; Leblanc,P.C. ; Matteson,J.L. ; Skelton,R.T. ; Stephan,E.A.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy X : 21-23 July 1999 Denver, Colorado.  pp.397-407,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3765
5.

国際会議録

国際会議録
Mallozzi,R.S. ; Kippen,R.M. ; Pendleton,C.N. ; Paciesas,W.S. ; Richardson,G.A. ; Phengchamnan,S. ; Karr,G. ; Wallace,D.B. ; Fishman,G.J. ; Parneli,T.A. ; Wilson,R.B. ; Chnstl,M.J. ; Binns,W.R. ; Hink,P.L. ; Rielage,K.R. ; Epsteln,J.W. ; Dowkontt,P.F. ; Buckley,J.H. ; Ryan,J.M.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy X : 21-23 July 1999 Denver, Colorado.  pp.22-32,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3765