1.

国際会議録

国際会議録
Hua,Q. ; Zheng,W. ; Li,Y. ; Liang,Y. ; He,P. ; Li,S. ; Xu,J.
出版情報: Instruments for optics and optoelectronic inspection and control, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.221-224,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4223
2.

国際会議録

国際会議録
Liu,M. ; Zhen,W. ; Liang,Y. ; Yu,M. ; He,P. ; Cheng,C.
出版情報: Automated optical inspection for industry : 6-7 November 1996, Beijing, China.  pp.603-610,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2899