1.

国際会議録
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1. Study on the fabrication of combined BSG-CSG element
Zhang, Y. ; Gao, F. ; Wen, S. ; Liu, Q. ; Guo, Y. ; Zhang, J.
出版情報: Holography, diffractive optics, and applications II : 8-11 November 2004, Beijing, China.  pp.611-620,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5636
2.

国際会議録
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2. Structural parameter of color separating grating and its physical characteristics
Gao, F. ; Zhu, J. ; Gao, F. ; Liu, J. ; Guo, Y. ; Hu, Z.
出版情報: Lithographic and micromachining techniques for optical component fabrication II : 3-4 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.25-31,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5183
3.

国際会議録
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3. Near-field diffraction analysis of color-separating gratings under high-power laser condition
Gao, F. ; Tang, X. ; Wen, S. ; Du, J. ; Guo, Y. ; Yao, J.
出版情報: Holography, diffractive optics, and applications II : 8-11 November 2004, Beijing, China.  pp.568-575,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5636
4.

国際会議録
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4. Analysis and design of grating lens by using rigorous electromagnetic theory
Tang, X. ; Gao, F. ; Zhang, Y. ; Du, J. ; Guo, Y. ; Du, C.
出版情報: Holography, diffractive optics, and applications II : 8-11 November 2004, Beijing, China.  pp.519-527,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5636
5.

国際会議録
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5. Long focal depth zone plate for optical coherence tomography
Gao, F. ; Liu, J. ; Luo, B. ; Yao, X. ; Liu, B. ; Guo, Y. ; Wang, C.
出版情報: Holography, diffractive optics, and applications II : 8-11 November 2004, Beijing, China.  pp.812-819,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5636
6.

国際会議録
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6. Fabrication of micropyramid prism array with coding gray-tone mask method
Liu, Q. ; Gao, F. ; Peng, Q. ; Guo, Y. ; Yao, J.
出版情報: Lithographic and micromachining techniques for optical component fabrication II : 3-4 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.116-122,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5183
7.

国際会議録
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7. Fabrication of beam sampling grating with electron- beam direct writing
Gao, F. ; Zeng, Y. ; Xie. S. ; Gao, F. ; Yao. J. ; Guo, Y. ; Du, J. ; Cui, Z.
出版情報: Practical Holography XVI and Holographic Materials VIII.  pp.413-419,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4659
8.

国際会議録
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8. Simple geometry to record fractional Fourier transform hologram with holographic lens
Gao, F. ; Zhang, Y. ; Zeng, Y. ; Yang, J. ; Xie, S. ; Gao, F. ; Huang, X. ; Yao, J. ; Du, J. ; Guo, Y.
出版情報: Practical Holography XVI and Holographic Materials VIII.  pp.175-181,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4659
9.

国際会議録
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9. Multiple fractional Fourier transform holography
Zeng, Y. ; Zhang, Y. ; Gao, F. ; Huang, X. ; Guo, Y.
出版情報: Optical Security and Counterfeit Deterrence Techniques IV.  pp.366-371,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4677
10.

国際会議録
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10. Analysis of near-field of diffractive gratings used in inertial confinement fusion driver
Tang, X. ; Gao, F. ; Zhang, Y. ; Du, J. ; Guo, Y. ; Du, C.
出版情報: Nanophotonics, Nanostructure, and Nanometrology.  pp.325-332,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5635