1.

国際会議録
国際会議録
1. THE ELECTRONIC STRUCTURE OF INTERSTITIAL IRON IN SILICON
Thilderkvist, A. ; Grossman, G. ; Kleverman, M. ; Grimmeiss, H.G.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.51-56,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
2.

国際会議録
国際会議録
2. *HIGH-RESOLUTION SPECTROSCOPY OF POINT DEFECTS IN SILICON
Grimmeiss, H.G. ; Kleverman, M. ; Olajos, J.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.3-14,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
3.

国際会議録
国際会議録
3. DEEP LEVELS IN SILICON AND SILICON- GERMANIUM ALLOYS
Grimmeiss, H.G. ; Kleverman, M.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.37-52,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10