1.

国際会議録
国際会議録
1. Micromechanical Characterization of GaSb by Microbeam Deflection and Using Nanoprobe and Finite Element Analysis
Ospina, M. ; Vangala, S. R. ; Yang, D. ; Sherwood, J. A. ; Sung, C. ; Goodhue, W. D.
出版情報: Micro- and nanosystems : symposium held December 1-3, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.173-178,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 782
2.

国際会議録
国際会議録
2. Determination of Nano Fluctuations in Surface Oxides of GaSb With Br-IBAE
Krishnaswami, K. ; Krejca, B. ; Vangala, S. R. ; Santeufemio, C. ; Allen, L. P. ; Ospina, M. ; Liu, X. ; Sung, C. ; Vaccaro, K. ; Goodhue, W. D.
出版情報: Fundamentals of novel oxide/semiconductor interfaces : symposium held December 1-4, 2003, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.329-334,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 786