1.

国際会議録
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1. A UHV TEM STUDY OF THE IN-SITU GROWTH OF ULTRA-THIN FILMS OF CoSi2 on Si (100)
Loretto, D. ; Gibson, J.M. ; Yalisove, S.M.
出版情報: Characterization of the structure and chemistry of defects in materials : symposium held November 28-December 3, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.403-408,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 138
2.

国際会議録
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2. MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF HIGH DOSE OXYGEN IMPLANTED SILICON
Batstone, J.L. ; White, Alice E. ; Short, K..T. ; Gibson, J.M. ; Jacobson, D.C.
出版情報: Beam-solid interactions and transient processes : symposium held December 1-4, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.597-602,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 74
3.

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3. ELECTRON BEAM INDUCED CURRENT STUDIES OF NICKEL SILICIDE/SILICON SCHOTTKY BARRIER HEIGHTS
Gibson, J.M. ; Joy, D.C. ; Tung, R.T. ; Ellison, J.L. ; Pimentel, C. ; Levi, A.F.J.
出版情報: Layered structures and epitaxy : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.163-170,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 56
4.

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4. *THE ROLE OF HYDROGEN IN SILICON MICROCRYSTALLIZATION
Wagner, S. ; Wolff, S.H. ; Gibson, J.M.
出版情報: Materials issues in microcrystalline semiconductors : symposium held November 29-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.161-170,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 164
5.

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5. IN-SITU TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY STUDIES OF THE OXIDATION OF Si(111) 7x7
Gibson, J.M.
出版情報: Atomic scale structure of interfaces : symposium held November 27-29, 1989, Boston Massachusetts, U.S.A..  pp.179-184,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 159
6.

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6. IMPURITY DIFFUSION, CRYSTALLIZATION AND PHASE SEPARATION IN AMORPHOUS SILICON
Elliman, R.G. ; Poate, J.M. ; Williams, J.S. ; Gibson, J.M. ; Jacobson, D.C. ; Sood, D.K.
出版情報: Beam-solid interactions and phase transformations : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, USA.  pp.389-394,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 51
7.

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7. PRECIPITATION PHENOMENA ASSOCIATED WITH ULTRA-HIGH Be DOPING IN Ga0.47In0.53 P LAYERS GROWN BY MBE
Cotell, C.M. ; Panish, M.B. ; Hamm, R.A. ; Hopkins, L.C. ; Gibson, J.M.
出版情報: Impurities, defects, and diffusion in semiconductors : bulk and layered structures : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.861-866,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 163
8.

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8. RECONSTRUCTION OF (100) SILICON/DISILICIDE INTERFACES
Loretto, D. ; Gibson, J.M. ; White, Alice E. ; Short, K.T. ; Tung, R.T. ; Yalisove, S.M. ; Batstone, J.L.
出版情報: High resolution microscopy of materials : symposium held November 29-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.97-102,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 139
9.

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9. *ELECTRICAL PROPERTIES OF EPITAXIAL SILICIDE-SILICON INTERFACES
Tung, R.T. ; Levi, A.F.J. ; Gibson, J.M. ; Ng, K.K. ; Chantre, A.
出版情報: Thin films : interfaces and phenomena : symposium held December 2-6, 1985, Boston, Massachusetts, USA.  pp.457-468,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 54
10.

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10. IN-SITU STUDIES OF SILICON OXIDATION
Gibson, J.M. ; Lanzerotti, M.Y.
出版情報: High resolution microscopy of materials : symposium held November 29-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.67-74,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 139
11.

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11. ELECTRON TRANSPORT THROUGH EPTAXIAL METAL/SEMI-CONDUCTOR HETEROSTRUCTURES
Levi, A.F.J. ; Tung, R.T. ; Batstone, J.L. ; Gibson, J.M. ; Anzlowar, M. ; Chantre, A.
出版情報: Interfaces, superlattices, and thin films : symposium held December 1-6, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.271-276,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 77
12.

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12. THE FORMATION OF THIN LAYERS AND DOBLE HETEROSTRUCTURES OF EPITAXIAL SILICIDES
Tung, R.T. ; Gibson, J.M.
出版情報: Heteroepitaxy on silicon : symposium held April 16-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A..  pp.211-226,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 67
13.

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13. MESOTAXY: GROWTH OF BURIED SINGLE-CRYSTAL CoSi2 LAYERS BY IMPLANTATION
White, Alice E. ; Short, K.T. ; Dynes, R.C. ; Garno, J.P. ; Gibson, J.M.
出版情報: Beam-solid interactions and transient processes : symposium held December 1-4, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.481-486,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 74
14.

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14. DIFFUSION, SOLUBILITY AND SEGREGATION OF IMPLANTED Cu, Ag AND Au IN AMORPHOUS Si
Jacobson, D.C. ; Elliman, R.G. ; Gibson, J.M. ; Olson, G.L. ; Poate, J.M. ; Williams, J.S.
出版情報: Beam-solid interactions and transient processes : symposium held December 1-4, 1986, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.327-332,  1987.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 74
15.

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15. The Limited Role of Surface Defects as Nucleation Sites for Cu2O on Cu(001)
Yang, J.C. ; Yeadon, M. ; Kolasa, B. ; Gibson, J.M.
出版情報: Proceedings of the Symposium on High Temperature Corrosion and Materials Chemistry.  pp.126-133,  1998.  Pennington, New Jersey.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-9
16.

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16. MOLECULAR HYDROGEN ADSORPTION ONTO THE Si (111) 7x7
Wolff, S.H. ; Wagner, S. ; Loretto, D. ; Gibson, J.M.
出版情報: Characterization of the structure and chemistry of defects in materials : symposium held November 28-December 3, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.575-580,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 138
17.

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17. SURFACE STUDIES OF SILICON WITH A HIGH RESOLUTION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
Gibson, J.M. ; McDonald, M.L. ; Unterwald, F.C. ; Gossmann, H.-J. ; Bean, J.C. ; Tung, R.T.
出版情報: Layered structures and epitaxy : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.39-42,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 56
18.

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18. The Surface Kinetics of the Initial Oxidation Stages of Copper as Investigated by In Situ Ultra-High Vacuum Transmission Electron Microscopy
Yang, J.C. ; Bhardwaj, M.D. ; Tropia, L. ; Gibson, J.M.
出版情報: High temperature corrosion and protection of materials volume 5 : proceedings of the 5th International Symposium on High Temperature Corrosion and Protection of Materials = Actes du 5è Colloque International sur la Corrosion et la Protection des Materiaux à haute Temperature, Les Embiez, France, May-mai 22-26 2000.  pp.133-140,  2001.  Uetikon-Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 369-372
19.

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19. *THE ELECTRONIC PROPERTIES OF EPITAXIAL CALCIUM FLUORIDE-SILICON STRUCTURES
Smith, III, T.P. ; Phillips, J.M. ; People, R. ; Gibson, J.M. ; Pfeiffer, L. ; Stiles, P.J.
出版情報: Thin films : interfaces and phenomena : symposium held December 2-6, 1985, Boston, Massachusetts, USA.  pp.295-306,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 54
20.

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20. *TRANSIENT THERMAL PROCESSING OF GaAs
Pearton, S.J. ; Gibson, J.M. ; Jacobson, D.C. ; Poate, J.M. ; Williams, J.S. ; Boerma, D.O.
出版情報: Rapid thermal processing : symposium held December 2-4, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.351-360,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 52
21.

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21. REDUCED SUBBOUNDARY MISALIGNMENT IN SOl FILMS SCANNED AT LOW VELOCITIES
Pfeiffer, L. ; West, K.W. ; Joy, D.C. ; Gibson, J.M. ; Gelman, A.E.
出版情報: Semiconductor-on-insulator and thin film transistor technology : symposium held December 3-6, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.29-38,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 53
22.

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22. IMPROVED SOI FILMS BY HIGH DOSE OXYGEN IMPLANTATION AND LAMP ANNEALING
Celler, G.K. ; Hemment, P.L.F. ; West, K.W. ; Gibson, J.M.
出版情報: Semiconductor-on-insulator and thin film transistor technology : symposium held December 3-6, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.227-232,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 53
23.

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23. * THERMAL STRESS DURING ZONE-MELTING-RECRYSTALLIZATION OF SILICON ON INSULATOR FILMS: THE ORIGIN OF SUBBOUNDARIES AND IN-PLANE ORIENTATION OF SOI
Gibson, J.M. ; Pfeiffer, L.N. ; West, K.W. ; Joy, D.C.
出版情報: Semiconductor-on-insulator and thin film transistor technology : symposium held December 3-6, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.289-300,  1985.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 53
24.

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24. Reactive Cluster Epitaxy: CoSi2 Nanoparticles on (111) Si
Zimmerman, C.G. ; Yeadon, M. ; Kleinschmit, M. ; Averback, R.S. ; Gibson, J.M.
出版情報: Recent developments in oxide and metal epitaxy : theory and experiment.  pp.97-104,  2000.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 619
25.

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25. Fluctuation microscopy: a technique for revealing atomic correlations in structurally noisy (disordered) materials (Invited Paper)
Treacy, M.M.J. ; Gibson, J.M.
出版情報: Noise as a Tool for Studying Materials.  pp.48-60,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5112