1.

国際会議録
国際会議録
1. In Situ Study of Barrier Layers Using Spectroscopic Ellipsometry and Mass Spectroscopy of Recoiled Ions
Gao, Y. ; Mueller, A.H. ; Irene, E.A. ; Auciello, O. ; Krauss, A.R. ; Schultz, J.A.
出版情報: Recent developments in oxide and metal epitaxy : theory and experiment.  pp.135-140,  2000.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 619
2.

国際会議録
国際会議録
2. In Situ Real-Time Studies of Oxygen Incorporation in Complex Oxide Thin Films Using Spectroscopic Ellipsometry and Ion Scattering and Recoil Spectrometry
Mueller, A.H. ; Gao, Y. ; Irene, E.A. ; Auciello, O. ; Krauss, A.R. ; Schultz, J.A.
出版情報: Recent developments in oxide and metal epitaxy : theory and experiment.  pp.141-148,  2000.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 619