1.

国際会議録
国際会議録
1. EVALUATION OF FPDS AND COPS IN SILICON SINGLE - CRYSTALS
Yamagishi, H. ; Fusegawa, I. ; Takano, K. ; Iino, E. ; Fujimaki, N. ; Ohta, T. ; Sakurada, M.
出版情報: Proceedings of the Seventh International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.124-135,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-10
2.

国際会議録
国際会議録
2. THE EFFECT OF D-DEFECT IN SILICON SINGLE CRYSTAL ON OXYGEN PRECIPITATION
Fusegawa, I. ; Fujimaki, N. ; Yamagishi, H.
出版情報: Defect engineering in semiconductor growth, processing and device technology : symposium held April 26-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.57-62,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 262