1.

国際会議録

国際会議録
Muller, B. ; Lareida, A. ; Beckmann, F. ; Diakov, G. M. ; Kral, F. ; Schwarm, F. ; Stoffner, R. ; Gunkel, A. R. ; Glueckert, R. ; Schrott-Fischer, A. ; Fischer, J. ; Andronache, A. ; Freysinger, W.
出版情報: Developments in X-ray tomography V : 15-17 August 2006, San Diego, California, USA.  pp.631805-631805,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6318
2.

国際会議録

国際会議録
Witte, F. ; Fischer, J. ; Nellesen, J. ; Beckmann, F.
出版情報: Developments in X-ray tomography V : 15-17 August 2006, San Diego, California, USA.  pp.631806-631806,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6318
3.

国際会議録

国際会議録
Beckmann, F. ; Donath, T. ; Fischer, J. ; Dose, T. ; Lippmann, T. ; Lottermoser, L. ; Martins, R. V. ; Schreyer, A.
出版情報: Developments in X-ray tomography V : 15-17 August 2006, San Diego, California, USA.  pp.631810-631810,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6318
4.

国際会議録

国際会議録
Scherf, H. ; Beckmann, F. ; Fischer, J. ; Witte, F.
出版情報: Developments in X-ray tomography IV : 4-6 August, 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.792-799,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5535