1.

国際会議録

国際会議録
Swavey,S. ; Williams,R.L. ; Fang,Z. ; Milkevitch,M. ; Brewer,K.J.
出版情報: Complex adaptive structures : 4-6 June, 2001, Hutchinson, USA.  pp.75-83,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4512
2.

国際会議録

国際会議録
Brewer,K.J. ; Swavey,S. ; Williams,R.L. ; Fang,Z. ; Bullock,E.R.
出版情報: Complex adaptive structures : 4-6 June, 2001, Hutchinson, USA.  pp.53-64,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4512
3.

国際会議録

国際会議録
Wang,J. ; Chen,T. ; Qi,C. ; Fang,Z.
出版情報: Optomechatronic systems II : 29-31 October 2001, Newton, USA.  pp.238-244,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4564
4.

国際会議録

国際会議録
Fang,Z. ; McGiure,V.W.
出版情報: Automatic inspection and novel instrumentation : 25-26 June 1997, Singapore.  pp.125-131,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3185
5.

国際会議録

国際会議録
Xu,K. ; Qiu,R. ; Xu,J. ; Fang,Z. ; Deng,P. ; Wu,X. ; Wang,M. ; Ming,N.
出版情報: Third International Conference on Thin Film Physics and Applications : 15-17 April 1997, Shanghai, China.  pp.404-407,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3175
6.

国際会議録

国際会議録
Li,L. ; Cai,H. ; Qu,R. ; Fang,Z.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.149-153,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
7.

国際会議録

国際会議録
Shi,W. ; Wang,L. ; Xia,Y. ; Ju,J. ; Fang,Z. ; Mo,Y.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.556-559,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
8.

国際会議録

国際会議録
Fang,Z. ; Xia,Y. ; Ju,J. ; Wang,L. ; Zhang,W.
出版情報: Fourth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 8-11 May 2000, Shanghai, China : proceedings.  pp.595-598,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4086
9.

国際会議録

国際会議録
Liu,W. ; Wang,Z. ; Mu,G. ; Fang,Z.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.98-101,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
10.

国際会議録

国際会議録
Wang,X. ; Lu,H. ; Yu,D. ; Qian,F. ; Chen,G. ; Fang,Z.
出版情報: Advanced optical manufacturing and testing technology : 1-3 November 2000, Chengdu, China.  pp.387-391,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4231