1.

国際会議録
国際会議録
1. Color-coded grating 3D profile measurement and its application
Liu,W. ; Wang,Z. ; Mu,G. ; Fang,Z.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.98-101,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
2.

国際会議録
国際会議録
2. Novel surface profile measurement with color-coded grating projection
Liu,W. ; Wang,Z. ; Mu,G. ; Fang,Z.
出版情報: Photonic Systems and Applications in Defense and Manufacturing.  pp.374-381,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3898
3.

国際会議録
国際会議録
3. High-power GRIN-SCH lasers with low-threshold-current density and high efficiency
Zhu,D. ; Wang,Z. ; Liang,J. ; Xu,B. ; Zhu,Z. ; Zhang,J. ; Gong,Q. ; Li,S. ; Fang,Z. ; Tu,Y. ; Liu,B. ; Hu,X. ; Han,Q. ; Jin,C.
出版情報: Semiconductor Lasers II.  pp.108-111,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2886