1.

国際会議録

国際会議録
Li,L. ; Cai,H. ; Qu,R. ; Fang,Z.
出版情報: Optical measurement and nondestructive testing : Techniques and applications, 8-10 November 2000, Beijing, China.  pp.149-153,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4221
2.

国際会議録

国際会議録
Tang,W. ; Zhang,Y. ; Duan,M. ; Li,L. ; Fang,Z.
出版情報: Automated optical inspection for industry: theory, technology, and applications II : 16-19 September, 1998, Beijing, China.  pp.323-332,  1998.  Bellingham, Washington.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3558