1.

国際会議録

国際会議録
Faifer, V. ; Edelman, P. ; Kontkiewicz, A. ; Lagowski, J. ; Hoff, A. ; Dyukov, V. ; Pravdivtsev, A. ; Kornienko, I.
出版情報: ALTECH 95 : analytical techniques for semiconductor materials and process characterization II : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 95, The Hague, The Netherlands.  pp.73-82,  1995.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-30
2.

国際会議録

国際会議録
Lagowski, J. ; Faifer, V. ; Edelman, P.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon.  pp.512-522,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-13