1.

国際会議録

国際会議録
Bayer, M. ; Ortner, G. ; Larionov, A. ; Kress, A. ; Forchel, A.W.B. ; Hawrylak, P. ; Hinzer, K. ; Korkusinski, M. ; Fafard, S. ; Wasilewski, Z.R. ; Reinecke, T.L. ; Lyanda-Geller, Yu.
出版情報: 10th International Symposium on Nanostructures: Physics and Technology.  pp.522-525,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5023
2.

国際会議録

国際会議録
Liu, H.C. ; Fafard, S. ; Dudek, R. ; Wasilewski, Z.R.
出版情報: Physics and Simulation of Optoelectronic Devices X.  pp.94-99,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4646