1.

国際会議録

国際会議録
Wahi, M. ; Ortmann, U. ; Lauritsen, K. ; Erdmann, R.
出版情報: Test and measurement applications of optoelectronic devices : 21-22 January 2002, San Jose, USA.  pp.171-178,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4648
2.

国際会議録

国際会議録
Haring, R. ; Schmitt, T. ; Belldncdurt, A.-R. ; Lison, F. ; Lauritsen, K. ; Erdmann, R. ; Kaenders, W.
出版情報: Solid State Lasers XIV: Technology and Devices.  pp.302-308,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5707
3.

国際会議録

国際会議録
Erdmann, R. ; Langkopf, M. ; Lauritsen, K. ; Bulter, A. ; Wahl, M. ; Wabnitz, H. ; Liebert, A. ; Moller, M. ; Schmitt, T.
出版情報: Optical Tomography and Spectroscopy of Tissue VI.  pp.43-50,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5693