1.

国際会議録

国際会議録
Ralston,J.D. ; Larkins,E.C. ; Eisele,K. ; Weisser,S. ; Burkner,S. ; Schonfelder,A. ; Daleiden,J. ; Czotscher,K. ; Esquivias,I. ; Fleissner,J. ; Sah,R.E. ; Maier,M. ; Benz,W. ; Rosenzweig,J.
出版情報: Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers : 31 January-1 February, 1996, San Jose, California.  pp.30-41,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2683
2.

国際会議録

国際会議録
Czotscher,K. ; Larkins,E.C. ; Weisser,S. ; Benz,W. ; Daleiden,J. ; Esquivias,I. ; Fleissner,J. ; Maier,M. ; Ralston,J.D. ; Romero,B. ; Schonfelder,A. ; Rosenzweig,J.
出版情報: High-Speed Semiconductor Laser Sources.  pp.153-161,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2684